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- EPMA與SEM的異同及其在材料測試中的應用網(wǎng)絡專題講座
- 時間:2019-08-09 發(fā)布者:本站 瀏覽次數(shù): 分享至
主題:EPMA與SEM的異同及其在材料測試中的應用
時間:2019年8月15日 14:00
主講人:趙同新 (島津上海分析中心應用工程師 )
內(nèi)容:微束分析儀器中比較有代表性的有電子探針EPMA和掃描電鏡SEM,它們在現(xiàn)代材料顯微分析領域中有著重要應用。EPMA和SEM均使用電子束作為激發(fā)源,采集出射的電子信號進行微區(qū)形貌觀察,檢測激發(fā)的特征X射線,對微區(qū)進行成分分析。本報告以EPMA與SEM在原理、結構上的異同進行講解,結合不同的材料對比測試展示這兩種儀器各自的功能特點。
網(wǎng)絡講堂入口:http://www.instrument.com.cn/webinar/