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FEI 掃描電子顯微鏡Apreo 材料科學(xué)應(yīng)用
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- 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
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- 適用范圍
- 服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)
Apreo 材料科學(xué)應(yīng)用
功能豐富的高性能 SEM
Apreo 的復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù),可產(chǎn)生高分辨率和信號(hào)選擇。這使得 Apreo 成為納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的平臺(tái),并且不會(huì)降低磁性樣品性能。
Apreo 受益于透鏡內(nèi)背散射探測(cè),這種探測(cè)提供材料對(duì)比度,即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時(shí)也不例外。新型復(fù)合透鏡通過能量過濾進(jìn)一步提高了對(duì)比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過濾??蛇x低真空模式現(xiàn)在的樣品倉壓力為 500 Pa,可以對(duì)要求高的絕緣體進(jìn)行成像。
通過這些優(yōu)勢(shì)(包括復(fù)合末級(jí)透鏡、高級(jí)探測(cè)和靈活樣品處理),Apreo 可提供的性能和多功能性。
體驗(yàn) Apreo SEM 帶來的優(yōu)勢(shì)
- 復(fù)合末級(jí)透鏡可在樣品(即使在傾斜時(shí)或進(jìn)行地形測(cè)量時(shí))上提供分辨率(1 kV 電壓下為 1.0 nm),而無需進(jìn)行電子束減速。
- 作用大的背散射探測(cè) - 始終保證良好的材料對(duì)比度,即使以低電壓和電子束電流并以任何傾斜角度對(duì)電子束敏感樣品進(jìn)行 TV 速率成像時(shí)也不例外。
- 無比靈活的探測(cè)器 - 可將各個(gè)探測(cè)器部分提供的信息相結(jié)合,獲得至關(guān)重要的對(duì)比度或信號(hào)強(qiáng)度。
- 各種各樣的電荷緩解策略,包括樣品倉壓力可達(dá)為 500 Pa 的低真空模式,可實(shí)現(xiàn)任何樣品的成像。
- 分析平臺(tái)提供高電子束電流,而且光斑很小。樣品倉支持三個(gè) EDS 探測(cè)器、共面的 EDS 和 EBSD 以及針對(duì)分析進(jìn)行了優(yōu)化的低真空系統(tǒng)。
- 樣品處理和導(dǎo)航極其簡(jiǎn)單,具有多用途樣品支架和 Nav-Cam+。
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更多詳細(xì)資料可來電咨詢,服務(wù)熱線:400-600-6053!
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