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XRD-6100
現(xiàn)在位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > XRD-6100
- 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
- 產(chǎn)品性能參數(shù)
- 適用范圍
- 服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)
易操作、多功能、多用途的X射線衍射儀
X射線衍射儀可在大氣中無(wú)損分析樣品,進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測(cè)定等。并且,可通過(guò)峰面積計(jì)算進(jìn)行定量分析。
可通過(guò)半高寬、峰形等進(jìn)行粒徑/結(jié)晶度/精密X射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。
配備高精度垂直型測(cè)角儀,適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測(cè)定。
- XRD-6100具有本質(zhì)安全結(jié)構(gòu)。
- 只有門連鎖機(jī)構(gòu)閉鎖時(shí),X射線管才能開(kāi)啟,具備高安全性。配備高速運(yùn)轉(zhuǎn)(1000°/min)及高精度角度重現(xiàn)性(±0.0001°)的垂直型測(cè)角儀,可進(jìn)行各種樣品的測(cè)定。驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)為獨(dú)立2軸驅(qū)動(dòng),可選擇θ-2θ聯(lián)動(dòng)或θ、2θ軸獨(dú)立驅(qū)動(dòng),特別對(duì)薄膜測(cè)定行之有效。
- 備有豐富的附件(軟件/硬件)來(lái)滿足多種需要。
X射線衍射儀XRD-6100 環(huán)境測(cè)定包
適合工業(yè)環(huán)境中的游離硅及石棉的定性/定量分析。
X射線衍射裝置XRD-6000 環(huán)境測(cè)定包
適于工業(yè)環(huán)境中的游離硅以及石棉的定性 · 定量分析。
在勞動(dòng)安全衛(wèi)生法中,關(guān)于因勞動(dòng)者在工作中的暴露而對(duì)其造成健康損害的92種物質(zhì),規(guī)定必須實(shí)施其作業(yè)環(huán)境的測(cè)定。其中,粉塵中的游離硅以及石棉的定性·定量分析可以使用X射線衍射裝置。
本測(cè)定包配備了依據(jù)「基底標(biāo)準(zhǔn)吸收校正法」的樣品臺(tái)和定量軟件,這不僅是使用X射線衍射裝置XRD-6000對(duì)收集在濾紙上的工業(yè)環(huán)境測(cè)定中的游離硅、石棉進(jìn)行定性分析需要的,在這些微量樣品的定量分析中也是需要的。
游離硅的定性·定量分析
工業(yè)環(huán)境測(cè)定中礦物性粉塵的管理濃度為按以下公式計(jì)算出的量。(從2005年4月1日開(kāi)始實(shí)行)
E=3.0/(0.59Q+1) (參考)修訂前E=2.9/(0.22Q+1)E:管理濃度mg/m3 Q:游離硅含有率(%)
所以知道粉塵中游離硅酸的含有率是很重要的。
游離硅種類有石英、微晶物、鱗石英等。 在此回修訂中,首先規(guī)定使用X射線衍射裝置掌握含有什么種類的游離硅(定性分析),根據(jù)其定性結(jié)果,以使用磷酸法或X射線衍射裝置的基底標(biāo)準(zhǔn)吸收校正法進(jìn)行定量。
下圖表示這些游離硅的衍射模式,分別具有各自的特征峰,因此,易于識(shí)別其種類。
物質(zhì)的衍射X射線強(qiáng)度因受基底物質(zhì)吸收的影響,必須進(jìn)行校正。為進(jìn)行校正必須求得基底物質(zhì)的X射線吸收系數(shù)??稍谝淮蔚臏y(cè)定中將其完成的方法就是「基底標(biāo)準(zhǔn)吸收校正法」。本測(cè)定包包括采用了此基底吸收校正法的專用定量分析軟件。
各種游離硅的衍射模式
石棉的定性·定量分析
關(guān)于石棉,在2005年7月實(shí)施了【石棉傷害預(yù)防規(guī)則】。適用此規(guī)則的建材等樣品,如果其石棉含量chao過(guò)重量5%左右以上,則可使用X射線衍射裝置以標(biāo)準(zhǔn)添加法或內(nèi)標(biāo)添加法對(duì)采集來(lái)的樣品進(jìn)行定量,但對(duì)于少于上述含量的樣品有時(shí)不能進(jìn)行定量。
此時(shí),作為只溶解樣品基底成分的前處理方法,實(shí)施甲酸前處理法,然后使用X射線衍射裝置以基底標(biāo)準(zhǔn)吸收校正法進(jìn)行定量。
在石棉的定性 · 定量分析中,也可使用配備有基底標(biāo)準(zhǔn)吸收校正法的環(huán)境測(cè)定樣品臺(tái)的X射線衍射裝置XRD-6000環(huán)境測(cè)定包。
各種石棉的衍射模式
石棉主要有蛇紋石類的纖蛇紋石,角閃石類的鐵直閃石、虎睛石等。使用X射線衍射法利用它們的特峰進(jìn)征行定量分析。