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超聲波清洗器
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培養(yǎng)箱
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磁力攪拌器 電動(dòng)攪拌機(jī) 勻漿機(jī)
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滅菌器
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實(shí)驗(yàn)室家具
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超低溫冰箱 冷藏柜
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純化設(shè)備
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純水機(jī) 蒸餾水器
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合成/反應(yīng)設(shè)備
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氣體發(fā)生/處理設(shè)備
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分離/萃取設(shè)備
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粉碎機(jī) 研磨儀 均質(zhì)機(jī)
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液體處理設(shè)備
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制樣/消解設(shè)備
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恒溫/加熱/干燥設(shè)備
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泵
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其它實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備
FEI DualBeam 顯微鏡 Scios 材料科學(xué)應(yīng)用
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- 產(chǎn)品簡介
- 產(chǎn)品性能參數(shù)
- 適用范圍
- 服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)
Scios 材料科學(xué)應(yīng)用
用于形態(tài)學(xué)、化學(xué)和晶體學(xué)分析的高通量三維表征
Scios? DualBeam 可對金屬、復(fù)合材料和涂層等各種材料提供出色的二維和三維性能。Scios 能夠?qū)Πù判詷悠吩趦?nèi)的各種類型的樣品得到高分辨高對比度的圖像Scios 能夠同時(shí)得到樣品的成分,形貌以及邊緣襯度,從而分析材料性能。并且不需要準(zhǔn)備,它就可以在特定位置,甚至是絕緣材料上,制作切片。創(chuàng)新功能讓 FEI 的 Scios DualBeam 可以生成三維數(shù)據(jù)立方體,以確定金屬中夾雜物的大小和分布,或分析裂紋尖端各個(gè)方向的應(yīng)力和應(yīng)變。此外,您可以使用 Scios 迅速可靠地制備 S/TEM、EBSD 或原子探針應(yīng)用中的高質(zhì)量樣品。
檢測技術(shù)是 FEI Scios 的核心技術(shù)。透鏡內(nèi) FEI Trinity? 檢測技術(shù)能夠同時(shí)收集所有信號,既節(jié)省了時(shí)間還能形成鮮明的對比度,從而有助于采集盡可能多的數(shù)據(jù)。創(chuàng)新的透鏡下同心反散射檢測器能提高效率,使您可以根據(jù)信號的角分布選擇信號,從而輕松分離材料和形態(tài)對比度,即使著陸能量為 20 eV 也是如此。
處理各種樣品的出色二維和三維性能
FEI Scios 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性,非常適于學(xué)院、政府和工業(yè)研究環(huán)境中的納米量級研究與分析。利用的《用戶指南》和 DualBeam 常見應(yīng)用的分步工作流程。