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美國麥奇克 納米粒度及zeta電位儀

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量原理:

粒度測量:動態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理
Zeta電位測量:膜電極設(shè)計與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率
分子量測量:水力直徑或德拜曲線

光學(xué)統(tǒng)
3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器,通過梯度步進光纖直接照射樣品,在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號,無需校正光路

軟件系統(tǒng):
 Microtrac FLEX軟件提供強大的數(shù)據(jù)處理能力,包括圖形,數(shù)據(jù)輸出/輸入,個性化輸出報告,及各種文字處理功能,如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù),Microsoft Access格式(OLE)等。體積,數(shù)量,面積及光強分布,包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,包括口令保護,電子簽名和指定授權(quán)等。

外部環(huán)境:
電源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz
環(huán)境要求:溫度,10-35°C
 標(biāo)準(zhǔn):符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008

主要特點:
﹡采用新的動態(tài)光散射技術(shù),引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法
﹡“Y”型光纖光路系統(tǒng),通過藍寶石測量窗口,直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,在加載電流的情況下,與膜電極對應(yīng)產(chǎn)生微電場,測量同一體系的Zeta電位, 避免樣品交叉污染與濃度變化。
﹡異相多譜勒頻移技術(shù),較之傳統(tǒng)的方法,獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級,提高分析結(jié)果的可靠性。
﹡可控參比方法(CRM),能精細分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,確保分析的靈敏度。
﹡顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計,減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性。
﹡快速傅利葉變換算法(FFT,F(xiàn)ast FourierTransform Algorithm Method),迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,縮短分析時間。
﹡膜電極設(shè)計,避免產(chǎn)生熱效應(yīng),能準(zhǔn)確測量顆粒電泳速度。
﹡無需比色皿,毛細管電泳池或外加電極池,僅需點擊Zeta電位操作鍵,一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果
﹡消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失,樣品池位置不同帶來的誤差,比色皿器壁的折射與污染,分散介質(zhì)的影響,多重散射的衰減等,提高靈敏度。


技術(shù)參數(shù):


粒度分析范圍: 0.3nm-10μm
重現(xiàn)性:誤差≤1%
濃度范圍:100ppb-40%w/v
檢測角度:180°
分析時間:30-120秒
準(zhǔn)確性:全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子
測量精度: 無需預(yù)選,依據(jù)實際測量結(jié)果,自動生成單峰/多峰分布結(jié)果
理論設(shè)計溫度:0-90℃,可以進行程序升溫或降溫
兼容性:水相和有機相