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安捷特--XRF鍍層測厚儀 CUBE系列

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一、功能

1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度,測量方法滿足GB/T 16921-2005標準(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。

1. 鍍層元素范圍:鈦~鈾,包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。

2. 鍍層層數(shù):多至5層。

3. 測量點尺寸:圓形測量點,直徑約0.2-0.8毫米。

4. 測量時間:通常35秒-180秒。

5. 樣品max尺寸:330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。

6. 測量誤差:通常小于5%,視樣品具體情況而定。

7. 可測厚度范圍:通常0.01微米到30微米,視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。

8. 同時定量測量8個元素。

9. 定性鑒定材料達20個元素。

自動測量功能:編程測量,自定測量;修正測量功能:底材修正,已知樣品修正
定性分析功能:光譜表示,光譜比較;定量分析功能:合金成份分析
數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能:x管理圖,x-R管理圖,直方柱圖。



二、特點

1. 采用基本參數(shù)法校準,可在無標樣情況下生成校準曲線以完成測量。

2. X射線采用從上至下的照射方式,即使是表面高低不一的樣品也可以正確測量。反之,如果是從下至上的照射方式,遇到表面凹凸的樣品,無法調(diào)整Z軸距離,導(dǎo)致測量光程的變化,引起測量的誤差。

3. 具有多種測試功能,僅需要一臺儀器,即可解決多種測試

4. 相比其他分析設(shè)備,投入成本低

5. 儀器操作簡單,便可獲得很好的準確性和重現(xiàn)性



技術(shù)參數(shù)

Item

項目

Part & Ref Number

部件號

Commodity &Description

貨物及描述

1

Cube X射線鍍層測厚儀

· X射線光管  微聚焦,高性能,鎢靶,焦斑尺寸0.2-0.8mm

· 高電壓 50千伏(1.2毫安)可根據(jù)軟件控制優(yōu)化

· 探測器  高分辨氣體正比計數(shù)探測器

· 準直器  單一固定準直器直徑0.3mm

· 樣品倉  330 x 200 x 170 mm

· 樣品臺  手動Z軸樣品臺

· 電源    230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W

· 儀器尺寸  350 x 420 x 310 mm

· 儀器重量  27Kg

· Windows 10操作系統(tǒng)和計算機主機

· 19寸液晶顯示器