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安捷特--XRF鍍層測厚儀 STARK系列

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一、功能：

1、采用X射線熒光光譜法：無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

2、鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。

3、可測量厚度范圍：Ti鈦—U鈾

4、鍍層層數(shù)：多至5層。

5、測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米。

6、測量時間：通常60秒-180秒。

7、樣品max尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。

8、測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。

9、可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。

10、同時定量測量8個元素。

11、定性鑒定材料達20個元素。

STARK系列參數(shù)

MODEL

STARK

X射線光管

微聚焦，高性能，鎢靶，焦斑尺寸約 0.2-0.8 mm ，

高壓管

50千伏（1.2毫安、60W瓦）可根據(jù)軟件控制優(yōu)化

探測器

高分辨正比氣體計數(shù)器

準直器

單一固定準直器直徑0.3毫米或0.5毫米

攝像頭

20倍放大自動對焦高清CCD彩色攝像頭

樣品倉

330 X 200 X 170 mm(W X D X H)

樣品臺

固定平臺

電源

230 VAC， 50—60 Hz,120W/100W

儀器尺寸

350 X 450 X 310 mm(W X D X H)

儀器重量

32KG

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