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德國入門級(jí)Fischer X射線熒光測量儀器XUL 210

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FISCHERSCOPE@X-RAYXUL

--耐用的入門級(jí)X射線熒光測量儀器，用于無損材料分析和涂層厚度測量:

        FISCHERSCOPE@X-RAYXUL和XULM是一款適合電鍍廠測量鍍層厚度的便宜耐用的儀器。它配備了一個(gè)固定的準(zhǔn)直器和濾片，射線管出射點(diǎn)稍大，非常適合測量點(diǎn)在1 mm以上的應(yīng)用。低能射線元件激發(fā)效率較低;但是對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)的測量典型電鍍層厚度的應(yīng)用，如Cr、Ni、Cu,沒有任何問題。

對(duì)于FISCHERSCOPE@X-RAYXUL和XULM系列來說，X射線源和接收器位于測量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺(tái)簡化了操作，特別是在日常生產(chǎn)中測量大量部件時(shí)特別有用。盡管結(jié)構(gòu)緊湊，但這些儀器都有大容量的測量室，這樣大的物品也可以測量。殼體的開槽設(shè)計(jì)(C型槽)可以測量諸如印刷線路板類大而平整的樣品，即使這些樣品可能無法完全放入測量室。

特征:
口帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。 *高工作條件:50KV,50W
口X射線探測器采用比例接收器
口準(zhǔn)直器:固定或4個(gè)自動(dòng)切換，0.05 x0.05mm到直徑00.3mm
口基本濾片:固定或3個(gè)自動(dòng)切換
口測量距離可在0-27.5mm范圍內(nèi)調(diào)整
口固定的樣品支撐臺(tái)或手動(dòng)XY工作臺(tái)
口攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。 刻度線經(jīng)過校準(zhǔn)， 顯示實(shí)際測量點(diǎn)大小。
口設(shè)計(jì)獲得許可， 防護(hù)全面， 符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

預(yù)期用途 用于材料分析和涂層厚度測量
元素范圍 鈦（22）至鈾（92）* *同時(shí)最多24種元素
測量方向 從下往上測量
主過濾器 固定
測量點(diǎn) 根據(jù)測量距離和孔徑，視頻圖像中會(huì)顯示實(shí)際的測量光斑大小。
min測量點(diǎn)：XUL 210和XUL 220：約?0.51mm（20mils）
X射線探測器 比例接收器(PC)
測量距離 0 … 25 mm (0 … 1 in)
縮放系數(shù) Digital 1x, 2x, 3x, 4x
供電電源 AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz
操作溫度 10 °C – 40 °C / 50 °F – 104 °F
存儲(chǔ)/運(yùn)輸溫度 0 °C – 50 °C / 32 °F – 122 °F
空氣濕度 ≤ 95 %, 無冷凝

應(yīng)用：

鉻鍍層，如：經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
防腐蝕鍍層，如鋼材上的鋅鍍層
印制電路板和柔性電路板上的鍍層
接插件和連接器上的鍍層
電鍍槽液分析