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日本 Horiba動態(tài)光散射粒徑分布測試儀SZ100Zeta電位分析儀

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Horiba SZ100可更高靈敏度、高精度地評價單一納米粒子（粒子直徑、Zeta電位、分子量測定）完全解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)

主要特點：

1.  將解析納米尺寸重要的三要素（粒子直徑、Zeta電位、分子量測定）的測定囊括于一身。

2.  從PPM順序的低濃度到百分之幾十的高濃度樣品，都能夠在保持原狀態(tài)下取樣調(diào)查、測定。

3.  微小容量電泳電池：為獨自研發(fā)，可以測定取樣調(diào)查僅100μL的Zeta電位。

4.  適合膠質(zhì)粒子、機能性納米粒子材料、高分子、膠束、核糖體、納米囊等廣泛應(yīng)用

5.  取樣調(diào)查后，只要按測定開始按鈕即可，操作簡單。

 

Horiba SZ100粒子直徑測定

超寬動態(tài)測定有效范圍：0.3nm~8000nm

通過采用與NEDO國家項目共同開發(fā)的相關(guān)器，實現(xiàn)高性能化。

在單一納米粒子專用光學(xué)系統(tǒng)中，采用低角度90度光學(xué)系統(tǒng)。

廣泛測定樣品濃度范圍

通過采用雙重光學(xué)系統(tǒng)，可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測定。

Horiba SZ100Zeta電位測定

通過安裝標準的Horiba自主研發(fā)的微型樣品池，可以測定僅100μL的樣本。

Horiba納米粒度儀SZ100廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域：

·陶瓷粒子

·金屬納米粒子

·石炭

·制藥

·病毒

·顏料、涂料

·化妝品

·聚合物