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ZMC400 桌面式 超聲掃描顯微鏡
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- 產(chǎn)品簡介
- 產(chǎn)品性能參數(shù)
- 適用范圍
- 服務網(wǎng)點
水浸超聲掃描顯微鏡、無損檢測系統(tǒng)一體機、水浸超聲掃描顯微鏡直銷、電力電子C超掃描顯微鏡、低壓電器銀點釬著率、半導體封裝空洞率檢測設備、聚晶金剛石復合片缺陷焊接率掃描顯微鏡、水冷板內(nèi)部裂痕無損檢測機、水冷散熱器缺陷C-SAM檢測設備、奧林巴斯超聲探頭,半導體塑封、粘片與焊接缺陷檢測用超聲掃描顯微鏡、超聲無損檢測設備,超聲波掃描探傷儀、焊縫無損檢測設備、IGBT模塊焊接空洞缺陷CT無損檢測設備、C-SCAN超聲掃描顯微鏡、功率器件超聲C掃描、集成電路聲學掃描顯微鏡;適用于低壓電器行業(yè)、金剛石行業(yè)、半導體封裝芯片行業(yè)、水冷板行業(yè)等。
輕量機型 —— 桌面式、操作與維護簡便。采用同步掃描結構,相比于100機型,大幅降低整機尺寸和重量,仍能保持較高的掃描效率。
主要配置:
1、輕量化掃描機頭;
2、桌面式一體化整機;
3、全封閉防護;
4、多功能夾具、一鍵校準、遠程協(xié)助。
輕量機型 —— 桌面式、操作與維護簡便。采用同步掃描結構,相比于100機型,大幅降低整機尺寸和重量,仍能保持較高的掃描效率。
主要配置:
1、輕量化掃描機頭;
2、桌面式一體化整機;
3、全封閉防護;
4、多功能夾具、一鍵校準、遠程協(xié)助。
產(chǎn)品參數(shù)
1、工作電源:220V/50Hz,1KW;
2、zui大掃描范圍:200mm×100mm×100mm;
3、整機尺寸:400mm×500mm×500mm;(標配)
4、探頭頻率范圍:1~50MHz;(標配,可升級至230MHz);
5、推薦圖像分辨率:0.5um ~ 4000um;
6、典型掃描耗時:<45s (測試條件:掃描區(qū)域10mmX10mm,分辨率50um);
7、zui大掃描速度:300mm/s;最大掃描加速度:5m/s2;
8、運動臺定位精度:X/Y向<±0.5um,Z向<±10um;重復定位精度:X/Y向<±0.01mm,Z向<±0.02mm。
9、采樣頻率:25~250MHz;(標配,可升級至1.5GHz);
10、每通道可調增益:-13~66dB;(標配,可升級);
11、脈沖重復頻率:5kHz;(標配,可升級)。
1、工作電源:220V/50Hz,1KW;
2、zui大掃描范圍:200mm×100mm×100mm;
3、整機尺寸:400mm×500mm×500mm;(標配)
4、探頭頻率范圍:1~50MHz;(標配,可升級至230MHz);
5、推薦圖像分辨率:0.5um ~ 4000um;
6、典型掃描耗時:<45s (測試條件:掃描區(qū)域10mmX10mm,分辨率50um);
7、zui大掃描速度:300mm/s;最大掃描加速度:5m/s2;
8、運動臺定位精度:X/Y向<±0.5um,Z向<±10um;重復定位精度:X/Y向<±0.01mm,Z向<±0.02mm。
9、采樣頻率:25~250MHz;(標配,可升級至1.5GHz);
10、每通道可調增益:-13~66dB;(標配,可升級);
11、脈沖重復頻率:5kHz;(標配,可升級)。
應用領域
高效率—— 根據(jù)20/80原則,車間現(xiàn)場80%的批量工件僅需做常規(guī)快速抽檢,不需要做詳細分析,因此可以使用400機型達到快速檢測。用于半導體、集成電路、低壓電器等行業(yè)的生產(chǎn)線的制程管控。適用于車間現(xiàn)場或小型理化實驗室。
高效率—— 根據(jù)20/80原則,車間現(xiàn)場80%的批量工件僅需做常規(guī)快速抽檢,不需要做詳細分析,因此可以使用400機型達到快速檢測。用于半導體、集成電路、低壓電器等行業(yè)的生產(chǎn)線的制程管控。適用于車間現(xiàn)場或小型理化實驗室。